俄罗斯PC3000教程 - 图文(8)

复

退出——从程序退出到PC—SHELL或到DOS

按键“Smart”和“Passp”能查看硬盘的Smart参数和描区域，这些参数能用 “认证DRV”命令读出和用ATA－4专业版完全解密。

2.5.2查看硬盘的S.M.A.R.T参数

按下“Smart”键将在屏幕上显示以下Smart参数： ID——控制器参数识别符

西数硬盘的识别符对应以下参数： ID——控制器参数 1——读取错误率 4——开始/ 停止总计 5——重置扇区总计 10——向上旋转总计 11——硬盘刻度重试总计

199——最终DMA CRC错误率 200——多区域错误率

富士通硬盘的识别符对应以下参数： ID——控制参数 1——读取错误率 2——通过量计算 3——向上旋转时间

4——梭形马达被激活的次数 5——可选择扇区的数量 7——寻找错误率 8——寻找时间计算 9——电源打开的时间

10——激活梭形马达重试的次数 12——电源关闭的时间

199——最终ATA CRC错误率 200——写入错误率

注意：同样的识别符可能对应不同HDD厂商的不同控制器参数

属性质——属性质范围是从1到253。首先属性有最大值，随后的消耗或预失失败的情况会导致属性值的可靠性降低。因此，高属性值意味着硬盘功能失控得可能性小，而低属性值则意味着硬盘的可靠性低和功能失控的可能性高最大的可靠属性值经常是100（IMB Quantum Fujitsu）或253（三星）。然而，也有例外。例如两数WDAC34000，WDAC33100 和WDAC31600 这几种型号的第一个可靠属性有最大值200，而其余的都是100。下限值－HDD开发者决定了每一个可靠属性的下限。如果最少属性值中的一个比对方的下值小，这意味着保存在硬盘里的数据有危险，可靠属性的构成和数目是由厂商单独为每一种HDD类型决定的。

“前失败/报告”Bit －除了下限值外，每个属性都由另外一个参数，该参数也表明了前坏硬盘的状态，硬盘有三种状态由前失败/报告来辨别：

“前失败/报告”Bit＝0 ，可靠属性值在相关的下限值之上该下限值显示了硬盘的高可靠性来源

“前失败/报告”Bit= 0 , 可靠属性值在相关的下限值之下,该下限值显示了硬盘的低可靠性

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来源

“前失败/报告”Bit=1, 可靠属性值在相关的下限值之下,指明前坏硬盘的状态.

结果——每个已控制参数的普遍结果，可能有以下值： OK——属性值比相关的下限值高

！——属性值比相关的下限值低，“前失败/报告”Bit= 0 ！！！——属性值比相关的下限值低，“前失败/报告”Bit= 1

如果硬盘不支持SMART诊断，按下“SMART”键引寻硬盘接纳ABRT错误和以下出现在屏幕上的信息：

这个硬盘不支持SMART。

2.5.3 硬盘测试

硬盘测试（HAD ,PCB）－测试和修复的模式：

读/ 写通道 定位系统 梭形马达和它的控制芯片 测试信息显示在状态上：

已准备好/忙――用状态中央暂存起的BSY bit：找出硬盘状态 CYL――当前（活动）柱体的值 HEAD――当前（活动）磁头的值 ERRS――找到的错误的数量 按键目的

按下右边的测试器微键盘的键将执行以下功能： 『Tran』――硬盘翻译器测试

『Step』――把磁头定位在减去－step当前柱体值的地方 『X->0』--硬盘 ，就是说，0柱体上磁头的位置 『A<->B』―― 位置在两个给出的柱体中 『RND』――随机位置在两个给出的柱体中 『ERAS』――写入代码0000到各个扇区 『View』――查看扇区的内容

『Wrt』――把已选择的代码写到当前的轨道 『HD』――磁头开关（选择）

『T』――测试磁盘旋转时间（毫秒）和速度（rev/秒）

给出柱体上的定位——在少数柱体上的定位能用『Step＋』和『Step－』

很方便的执行。当需要定位大量柱体时，就要按下『X->A』键－你要输入柱体A的数量，柱体A上磁头将被定位，输完后按下『Enter』，你就可以按『删除键』来删除输错的符号。 在两个给出柱体上的定位——你要先按下『A<->B』 。接入输入柱体A和B的数目，在A和B中间磁头将被定位，输完后硬盘开始定位磁头，按下『Cancel』或『exit』可以从屙屎模式退出，要定位两个随机柱体中的磁头你可以按下『RND』，执行为第一个和最后一个柱体输入数值类似于cyclic定位模式。

写入——按下『Wrt』会跳出模式选择菜单： 写入模式： 0000 FFFF 5555 AAAA 6DB6

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9999

按下『Enter』后写入操作将会在硬盘当前轨道的各个扇区执行。

注意：在已选择的轨道上写入会破坏用户数据。

察看扇区内容——按下『View』后你必须输入开始柱体、磁头扇区的数量，扇区的转储会出现在屏幕少年上，『Up』和『Down』键可以察看以前和接下来的扇区，按下『Cancel』或『exit』回到主菜单。

清除——按下『Eras』以下信息会出现： 确定？

按『Enter』或『Cancel』

按下『Enter』硬盘会被重新recalibrated 写入无效值会被从0柱体和0磁头开始，退出清除过程可以按下『Cancel』或『exit』回到主菜单。

注意：清除会破坏用户数据

硬盘翻译器测试——按下『Tran』你要输入被测试区域的开始和结束柱体，测试在两个Pass执行：第一个Pass写入相关的数目到每个扇区；第二个Pass读出已写的数目并与计算出的数目对比。如果数目不匹配，就会发出错误报告。

注意：翻译器会损坏用户数据。

测试磁盘的旋转时间和速度——按下『T』后，以下信息出现： 索引 xx , xx ms 旋转 yyyy RPM

这里xx, xx 时磁盘的旋转时间（每毫秒）yyyy是转速(rev/分)。八种IDE硬盘不能形成索引信号，他们不能测试时间和速度并且按下『T』后测试器保持空

“LBA模式”是当前的LBA扇区显示在状态栏中而不是CYL和HEAD参数，由『Ver』代替『HD』键来开关磁头－意味着当前的LBA扇区验证，所有的定位模式用于LBA扇区间的定位而不是柱体间。

2.5.4 操控者测试

控制测试PCB——测试和修复ATA界面控制器，mcu;写/读通道，RAM缓冲的测试模式。 菜单：

控制器测试，读取Cyclic状态注册，扇区缓冲测试，Cyclic写入扇区，扇区的Cyclic读取，IRQ测试，硬盘自诊，硬盘重启，退出

读取Cyclic状态注册——该测试是为了检查HOST—HDD微控制器总线，在硬盘不能执行输入的命令活错误解释命令。

或是如果HDD一直在“忙”——但BSY bit（状态栏中）一直是活动的，在测试一个短的读取循环被执行期间，在一个振荡器的帮助下进行失控检查，按下键盘打断该喜循环，测试开赛后，以下信息会出现测试器显示上： 进行状态注册读取循环

测试期间，状态注册和错误注册灯是活动的，按下测试器键盘上的注意键回到主菜单， IRQ测试——测试是为检查打断要求通过引针的LDE连接器

注意：为了执行测试，IRQ12不应被占据，否则测试结果会是错误的。

扇区缓冲测试——测试是为了检查内部HDD数据总线，所有的总线硬盘被放在该总线上，一个ATA界面控制器和扇区缓冲区域的内部总线—缓冲RAM MC(限制通道)。测试程序

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执行命令“写入缓冲”和“读取缓冲”第一批代码FF, FE, FD,FB, 和 F7…….（分组0）和代码00，01，02，04，08，10…….（分组1），

被写入到扇区缓冲，随着读取扇区缓冲并与写入的数据比较。

测试开 …… 此处隐藏：3229字，全部文档内容请下载后查看。喜欢就下载吧 ……