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第二章 晶体结构与晶体缺陷

来源:网络收集 时间:2026-05-26
导读: 第二章 晶体结构与晶体缺陷 例 题 2-1 (a)MgO具有NaCl结构。根据O2-半径为0.140nm和Mg2+半径为0.072nm,计算球状离子所占有的空间分数(堆积系数)。 (b)计算MgO的密度。 解:(a)MgO具有NaCl型结构,即属面心立方,每个晶胞中含有4个Mg2+和4个O2-,故M

第二章 晶体结构与晶体缺陷

例 题

2-1 (a)MgO具有NaCl结构。根据O2-半径为0.140nm和Mg2+半径为0.072nm,计算球状离子所占有的空间分数(堆积系数)。

(b)计算MgO的密度。

解:(a)MgO具有NaCl型结构,即属面心立方,每个晶胞中含有4个Mg2+和4个O2-,故Mg所占有体积为:

4VMgO=4??(R3?R3)Mg2?O2?34=4??(0.0723?0.1403)3=0.0522nm

因为Mg2+和O2-离子在面心立方的棱边上接触:

a=2(RMg2??RO2?)=(20.072?0.140)=0.424(nm)

0.0522==68.5%33a(0.424)堆积系数=

VMgODMgO=(b)

Mn·N0a3=4?(24.3?16.0)6.02?1023?(0.424?10?7)3=3.51g/cm3

2-2 Si和Al原子的相对质量非常接近(分别为28.09和26.98),但SiO2和Al2O3的密度相差很大(分别为2.65g/cm3和3.96g/cm3)。试计算SiO2和Al2O3的堆积密度,并用晶体结构及鲍林规则说明密度相差大的原因。

解: 首先计算SiO2堆积系数。每cm3中含SiO2分子数为:

SiO2/cm3=2.65223=2.64?10个/cm(28.09?32.0)/(6.03?1023)

Si4?/cm3=2.64?1022个/cm3O2?/cm3=2.64?1022?2=5.28?1022个/cm3每cm中Si和O所占体积为:

3

4+

2-

4VSi4?/cm3=??2.64?1022?(0.026?10?7)33=0.001954VO2-/cm3=??5.28?1022?(0.138?10?7)33=0.5809

Si2O3晶体中离子堆积系数=000195+0.5809=0.5829或58.29%

Al2O3堆积系数计算如下:

3.96Al2O3/cm3==2.34?1022个/cm323101.96/6.03?10Al3?/cm3=2.34?1022?2=4.68?1022个/cm3O2?/cm3=2.34?1022?3=7.02?1022个/cm34VAl3?/cm3=??4.68?1022?(0.053?10?7)3=0.029234VO2?/cm3=??7.02?1022?(0.14?10?7)3=0.80703

Al2O3中离子堆积系数=0.0292+0.8070=0.8362或83.62% 计算时

RSi4?=0.026nm

RO2?=0.138nm(四配位) =0.14nm(六配位)

SiO2。

RAl3?=0.053nm

RO2?由于Al2O3离子堆积系数83.62%大于SiO2晶体总离子堆积系数,故Al2O3密度大于从鲍林规则可得,Al2O3中Al3+于O2-是六配位,Al3+充填O2-六方密堆中八面体空隙总数的2/3。而SiO2晶体中,Si4+是高电价低配位。Si4+仅充填了四面体空隙数的1/4,Si-O四面体以顶角相连成骨架状结构,堆积疏松,空隙率大,故密度低。

2-3 试简述层状硅酸盐矿物二层型结构与三层型结构,二八面体与三八面体结构的演变以及各种层状矿物的结构关系。

解:层状硅酸盐凡有一个八面体层与一个四面体层相结合称为双层型。八面体层两侧都与一层四面体层结合称为三层型。八面体层中阳离子一般为Al3+或Mg2+。按照电中性要求,当Al3+在八面体中心,铝氢氧八面体空隙只有2/3被Al3+充填时,称为二八面体。若镁氢氧八面体空隙全部被Mg2+充填称为三八面体。层状矿物四面体中的Si4+还可以按一定规律被Al3+代替。层与层之间还可嵌入水分子作为层间结合水。通过每一个变化就形成一种新的矿物。表2-5综合列出以上多种多样的结构变化及各种层状矿物的相互关系。

表2-5

双 层 结 构 三 层 结 构

皂 石 蛭 石 三八面体 +层间水 叶蛇纹石 -2Al +3Mg 高 岭 石 + 四面体+ 四面体滑 石 -2Al +3Mg 叶 蜡 石 +层间水 蒙 脱 石 -Si +Al+K +层间水 叙 永 石 (多水高岭) -Si +Al+K +层间水 金 云 母 -2Al +3Mg 白 云 母 二八面体 1?N0MZ2e2??r/?E=????N0n?e4??0?r?2-4 对离子晶体,位能E(J/mol)可以写成,式

中N0为阿弗加德罗常数;M为马德龙常数(表示离子的特点集合排列对静电能的影响);n为与阳离子最邻近的阴离子数目;λ和ρ为材料常数;ε0为转换因子(ε0=8.854×10-12C2/N·m2);e为电子电荷;Z为阳离子与阴离子上单位电荷的绝对数目。在阳离子与阴

离子平衡距离r0处,离子之间的作用力由下式得出

?dE?F=???=0dr??r0。

MZ2e2(a)将表示位能的公式对r求导,并解出nλ,用4??0、ρ和r0表示。

1(b)将(a)结果代入表示位能的公式中,得出晶格能U0(对于r=r0)用(4??0)、22

(N0MZe)、ρ和r0表示。

dE1?N0MZ2e2?N0n??r/???=?e2???r?解:(a) dr4??0?

令 dE/dr=0

1?N0MZ2e2?N0n??r/????e2???r? 4??0?=0

N0MZ2e2r2解之得:nλ=exp(-r0/ρ)

(b)将nλ代入E式中,得到

1?N0MZ2e2?N0MZ2e2???U0=??exp?(r0/?)2??4??0?4??0r0r??N0MZ2e2??=?r0/?)??1?exp?(4??rr000??

2-5 利用2-4题答案(a)计算NaCl晶格能(对于NaCl,M=1.748;ρ=0.033nm;r0

=0.282nm ;e=1.602×10-19C)。(b)MgO晶格能是多少?(MgO晶体结构与NaCl相同,ρ=0.039nm;r0=0.210nm)(c)MgO得熔点为2800℃,NaCl仅为801℃,从以上计算能说明这个差别吗?

解:(a)NaCl晶体Z=1,ρ=0.033nm=0.033×10-9m。

6.02?1023?1.748?1?(1.602?10?19)2U0=?4??8.854?10?12?0.282?10?9?0.033?10?90.033?10?9????1?0.282?10?9exp0.282?10?9??=?747.9kJ/mol??

(b)MgO Z=2,ρ=0.039nm=0.039×10-19m

6.02?1023?1.748?22?(1.602?10?19)2U0=?4??8.854?10?12?0.210?10?9?0.039?10?90.039?10?9????1?0.210?10?9exp0.210?10?9??=?3592kJ/mol??

?U0NACl, (c)由计算可知U0MgO?MgO的熔点高于NaCl。

2-6 (a)在MgO晶体中,肖特基缺陷的生成能为6eV,计算在25℃和1600℃时热缺陷的浓度。(b)如果MgO晶体中,含有百万分之一的Al2O3杂质,则在1600℃时,MgO晶体中时热缺陷占优势还时杂质缺陷占优势?

解:(a)根据热缺陷浓度公式:

n=exp(?E/2kT)N

由题意E=6eV=6×1.602×10-19=9.612×10-19J

T1=25+273=298K T2=1600+273=1873K

n9.612?10?19?51=exp(?)=1.92?102?1.38?10?23?298298K: N n9.612?10?19?9=exp(?)=8?102?1.38?10?23?18731873K: N

(b)在MgO中加入百万分之一的Al2O3,缺陷方程如下:

Al2O3?MgO???2Al?Mg?VMg???3OO

此时产生得缺陷为[VMg]杂质。

?6??AlO=[V]=10??23Mg杂质而,

???9??[V]?8?10Mg热由(a)计在1873K时,,

????所以[VMg]杂质?[VMg]热在1873K时杂质缺陷占优势。

2-7 试写出少量MgO掺杂到Al2O3中和少量YF3掺杂到CaF2中的缺陷方程。(a)判断方程的合理性。(b)写出每一个方程对应的固溶式。

Al2O33MgO????2Mg?Al?Mg1?3OO

??(1)

Al2O3??2MgO????2Mg?Al?VO?2OO(2)

CaF2?YF3????Y?Ca?F1?2FFCaF2???6FF2YF3????2Y?Ca?VCa(3) (4)

(a)书写缺陷方程首先考虑电价平衡,如方程(1)和(4)。在不等价置换时,

3Mg2+?2Al3+;2Y3+?2Ca2+。这样即可写出一组缺陷方程。其次考虑不等价离子等量

置换,如方程(2)和(3)2Mg2+?2Al3+;Y3+?Ca2+。这样又可写出一组缺陷方程。

在这两组方程中,从结晶化学的晶体稳定性考虑,在离子晶体中除萤石型晶体结构可以产生填隙型固溶体以外,由于离子晶体中阳离子紧密堆积,填隙阳离子或阳离子都会破坏晶体的稳定性。因而填隙型缺陷在离子晶体中(除萤石型)较少见。上述四 …… 此处隐藏:2929字,全部文档内容请下载后查看。喜欢就下载吧 ……

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